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• 測試芯片EDA&IP
  • SmtCell 功能強大的參數化單元創(chuàng)建工具
  • TCMagic 通用型的測試芯片版圖自動化設計平臺
  • ATCompiler 可尋址測試芯片設計平臺
  • Addressable IP 可尋址測試芯片
  • ICSpider 產品芯片成品率和性能診斷
  • Dense Array 超高密度測試芯片設計及快速測試技術
  • HDYS 高密度工藝監(jiān)測電路IP
• DATAEXP大數據分析平臺
  • DE-G 通用半導體數據分析軟件
  • DE-YMS 半導體制造全流程數據管理分析系統
  • DE-DMS 缺陷管理分析系統
  • INF-AI 工業(yè)智能化集成平臺
  • INF-ADC 自動缺陷分類系統
  • INF-WPA 智能高效的晶圓缺陷圖案分析系統
  • DE-RF RF數據分析軟件
  • DE-FDC 設備監(jiān)控系統
  • DE-SPC 統計過程控制系統
  • DE-Alarm 智能良率、品質異常檢測及報警系統
  • DE-iCASE 半導體缺陷異常智能化診斷系統
• DFM軟件
  • CMPEXP 高效CMP建模與仿真工具
  • Virtual Yield 芯片良率建模工具
  • LayoutVision 強大的版圖集成與分析平臺
• DFT軟件
  • QuanTest 可測性設計自動化和成品率診斷解決方案

晶圓級電性參數測試設備
• 晶圓級WAT測試設備
  晶圓級電學參數測試設備，為客戶提供準確且高度自動化的測試解決方案，用于高效監(jiān)控工藝
• 晶圓級WLR測試設備
  晶圓級可靠性(WLR)測試設備，快速準確評估元器件是否能保持其電性規(guī)格高一致性的能力
• 工藝開發(fā)測試設備
  應用于技術研發(fā)階段，大幅提升測試效率和精度

• 成品率提升服務（Yield Ramp Service)
  為新工藝節(jié)點開發(fā)提供定制化服務，實現工藝開發(fā)周期的縮短和成品率的提升
• DFT 設計服務 （DFT Design Service）
  DFT（Design for Test）技術作為業(yè)界的標準手段，通過在芯片設計時加入測試專用電路，增加芯片的可測試性

• LayoutVision Lite
  高性能的版圖查看工具