廣立微YMS 系統(tǒng)全方位賦能思特威CMOS 圖像傳感器良率管控
DE-YMS半導(dǎo)體全流程數(shù)據(jù)分析
DE-YMS系統(tǒng)的zonal analysis模塊為思特威工程師提供了快速在wafer上分區(qū)域分析，支持多種靈活的分區(qū)管理，其結(jié)果也是秒級(jí)刷新，尤其是在 4-cut PH process for process window check，need check 4 cut CP variation場(chǎng)景下，為用戶提供了強(qiáng)大的分析工具。
思特威工程師利用DE-G自主搭建了Die to Die分析模板，通過執(zhí)行新機(jī)校準(zhǔn)流程，利用標(biāo)準(zhǔn)晶圓（Golden Wafer）采集新舊測(cè)試機(jī)測(cè)試數(shù)據(jù)集，基于標(biāo)準(zhǔn)化分析模板驗(yàn)證數(shù)據(jù)分布的一致性及統(tǒng)計(jì)顯著性差異，建立客觀評(píng)估體系以規(guī)避人為主觀判斷偏差。
1、相同Die相同測(cè)試項(xiàng)的精細(xì)化對(duì)比分析
2、多參數(shù)多準(zhǔn)則的跨機(jī)臺(tái)測(cè)試的協(xié)同驗(yàn)證
3、通過多機(jī)臺(tái)交叉測(cè)試同一晶圓的Bin的結(jié)果對(duì)比
用戶反饋
DE-G 靈活的模板設(shè)計(jì)為多種場(chǎng)合的數(shù)據(jù)分析處理提供了便利，用戶可以根據(jù)實(shí)際需求定制模板；YMS dashboard則能輕松實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期/大批量的數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)，二者搭配使用顯著提升了我們的工作效率。
——From 思特威產(chǎn)品工程師
雙向賦能的合作，不僅為雙方創(chuàng)造技術(shù)突破與商業(yè)增長(zhǎng)的雙贏空間，更將加速國(guó)產(chǎn)CIS產(chǎn)業(yè)鏈升級(jí)，為全球半導(dǎo)體競(jìng)爭(zhēng)格局注入新動(dòng)能。
關(guān)于思特威
思特威（上海）電子科技股份有限公司是一家從事CMOS圖像傳感器芯片產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)和銷售的高新技術(shù)企業(yè)，總部設(shè)立于中國(guó)上海，在多個(gè)城市及國(guó)家設(shè)有研發(fā)中心。
自成立以來，思特威始終專注于高端成像技術(shù)的創(chuàng)新與研發(fā)，憑借自身性能優(yōu)勢(shì)得到了眾多客戶的認(rèn)可和青睞。作為致力于提供多場(chǎng)景應(yīng)用、全性能覆蓋的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品企業(yè)，公司產(chǎn)品已覆蓋了智能手機(jī)、智能車載電子、機(jī)器視覺等多場(chǎng)景應(yīng)用領(lǐng)域的全性能需求。
思特威將秉持“以前沿智能成像技術(shù)，讓人們更好地看到和認(rèn)知世界”的愿景，以客戶需求為核心動(dòng)力，持續(xù)推動(dòng)前沿成像技術(shù)升級(jí)，拓展產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域，與合作伙伴一起助推未來智能影像技術(shù)的深化發(fā)展。
