DAC被公認為全球EDA、Foundry和IP提供商的盛會，也是電子系統(tǒng)設計和自動化領域的首要會議，享有“EDA界的奧斯卡”的美譽。

本次會展上，廣立微與海內(nèi)外客戶進行了技術共享和學習交流，展示了多年來經(jīng)驗積累的高效測試芯片設計EDA及IP和已成功驗證的成品率提升解決方案，重點展示了全新升級的DATAEXP大數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)和電性參數(shù)測試設備。

DATAEXP：一站式、高效數(shù)據(jù)分析管理

廣立微DATAEXP系列軟件支持半導體制程中全流程數(shù)據(jù)管理和分析，如：測試芯片分析、成品率分析、產(chǎn)線數(shù)據(jù)管理分析、缺陷管理分析，車規(guī)標準管控、制造過程數(shù)據(jù)分析等，協(xié)助提升半導體企業(yè)生產(chǎn)運維能力和行業(yè)數(shù)據(jù)分析效率。

通過DATAEXP全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)，可以幫助半導體企業(yè)統(tǒng)一管理端到端全產(chǎn)業(yè)鏈的數(shù)據(jù)，快速存取、關聯(lián)整合從設計、制造到封裝測試各環(huán)節(jié)產(chǎn)生的海量數(shù)據(jù)，提供高效、針對性的分析功能，有效地幫助半導體企業(yè)提升成品率和提高產(chǎn)品性能，以加速產(chǎn)品開發(fā)、提升成品率，進行有效的供應鏈管理。

軟硬件協(xié)同，打造成品率生態(tài)

廣立微全新的先進量產(chǎn)電性監(jiān)控方案（Adv-PCM）亮相DAC，受到諸多客戶關注。

廣立微Adv-PCM涵蓋更加豐富的測試內(nèi)容維度，除了常規(guī)的良率監(jiān)控結構，增加了探底工藝窗口、版圖熱點、器件失配度和產(chǎn)品敏感的相關監(jiān)控結構，能更有效地對產(chǎn)線成品率進行全面的監(jiān)控。