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產(chǎn)品與服務
軟件
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測試芯片EDA&IP
SmtCell
功能強大的參數(shù)化單元創(chuàng)建工具
TCMagic
通用型的測試芯片版圖自動化設計平臺
ATCompiler
可尋址測試芯片設計平臺
Addressable IP
可尋址測試芯片
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產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷
Dense Array
超高密度測試芯片設計及快速測試技術
HDYS
高密度工藝監(jiān)測電路IP
DATAEXP大數(shù)據(jù)分析平臺
DE-G
通用半導體數(shù)據(jù)分析軟件
DE-YMS
半導體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
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RF數(shù)據(jù)分析軟件
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半導體缺陷異常智能化診斷系統(tǒng)
DFM軟件
CMPEXP
高效CMP建模與仿真工具
Virtual Yield
芯片良率建模工具
DFT軟件
QuanTest
可測性設計自動化和成品率診斷解決方案
晶圓級電性參數(shù)測試設備
晶圓級WAT測試設備
晶圓級電學參數(shù)測試設備,為客戶提供準確且高度自動化的測試解決方案,用于高效監(jiān)控工藝
晶圓級WLR測試設備
晶圓級可靠性(WLR)測試設備,快速準確評估元器件是否能保持其電性規(guī)格高一致性的能力
工藝開發(fā)測試設備
應用于技術研發(fā)階段,大幅提升測試效率和精度
成品率提升服務(Yield Ramp Service)
為新工藝節(jié)點開發(fā)提供定制化服務,實現(xiàn)工藝開發(fā)周期的縮短和成品率的提升
DFT 設計服務 (DFT Design Service)
DFT(Design for Test)技術作為業(yè)界的標準手段,通過在芯片設計時加入測試專用電路,增加芯片的可測試性
解決方案
成品率提升
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SmtCell
功能強大的參數(shù)化單元創(chuàng)建工具
SmtCell簡介
SmtCell是一款參數(shù)化單元(Parameterized Cell)版圖設計工具。參數(shù)化單元的優(yōu)勢在于:相同結構的單元版圖只需創(chuàng)建一次;版圖中幾何圖形的相關屬性可用參數(shù)來表征;單元版圖重復、費時的物理設計過程用參數(shù)賦值來代替。跟傳統(tǒng)的版圖設計工具相比,SmtCell可以帶來設計效率的大幅提升。
提高版圖設計效率
GUI可視化的版圖設計方式替代業(yè)內原始的純腳本編寫的參數(shù)化單元設計方式,并在強大的版圖設計功能的加持下,實現(xiàn)設計效率大幅提升
豐富的參數(shù)化版圖單元庫
軟件內置常見的參數(shù)化版圖單元庫,無需創(chuàng)建,可直接調用,適用常見的工藝節(jié)點工藝開發(fā)和良率提升的需求
主要功能
與主流版圖設計軟件匹配的版圖創(chuàng)建和編輯功能
靈活的版圖創(chuàng)建功能,如約束(Constraints)、條件(Condition)等
復雜的功能運算,如運算(Operation)的填充(fill)、布爾(boolean)等
支持TCL在線編程
多層次參數(shù)定義與參數(shù)化功能
內嵌錯誤檢查功能
支持多種格式參數(shù)化單元輸出,如.lib,SKILL語言等
設計優(yōu)勢
友好的圖形用戶界面,清晰的功能模塊分區(qū)
相同結構的單元版圖只需創(chuàng)建一次
版圖中幾何圖形的相關屬性用參數(shù)來表征
單元版圖中物理設計過程用參數(shù)賦值來代替
提升版圖設計效率10倍以上
輕松實現(xiàn)設計規(guī)則無誤差設計
方便快捷地從一個技術節(jié)點移植到另一個節(jié)點
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