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廣立微豐富電性測試產品矩陣,推出T4000 Max 100pin多通道并行參數(shù)測試機

發(fā)布日期 : 2024-03-12
在集成電路的工藝開發(fā)、產品導入和量產過程中,電性測試設備扮演著重要角色。通過提高測試設備速度,可加快新產品開發(fā)周期,提升生產效率,降低測試成本。這不僅有助于將新設計芯片快速推向市場,而且對整個芯片生產過程產生積極影響,促進芯片產業(yè)的持續(xù)發(fā)展。

 

 
T4000 Max 問世 測試速度大幅提升
 
 

最近,廣立微推出T4000 Max 半導體參數(shù)測試機,配置100pin,支持多通道并行測試,可更好地服務有多測試項、高測試效率需求的客戶。T4000 Max(100pin)豐富了廣立微典型測試產品矩陣,進一步擴展公司高速高端測試機品類,標志著廣立微在晶圓級電性測試設備前沿領域取得了又一重要成果。

 

T4000 Max(100pin)系列采用了自研高性能矩陣開關構架,具有精度高、速度快、配置靈活等特點,適用于工藝研發(fā)、晶圓級可靠性、量產WAT等多種測試場景。

 

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其100pin的配置,可支持多條module同時扎針量測,例如:24pad/module,可同時測量4條module,大幅提升測試速度,在絕大多數(shù)layout場景下,可支持充分并行測試。

 

十余載深厚積淀,潛心技術研發(fā)。廣立微的電性測試設備已在客戶端久經(jīng)考驗,在功能、一致性、測量精度、測試效率、交貨周期和服務保障等方面極具競爭力。

 

初心如磐擔使命,奮楫篤行啟“芯”程。未來,廣立微將持續(xù)開發(fā)更多具有全球競爭力的技術創(chuàng)新和差異化產品,為客戶和市場提供卓越性能、高生產效率和高性價比的測試設備解決方案,助力客戶贏得未來。