晶圓級電性測試系統(tǒng)獲關注

此次展會中，眾多專業(yè)觀眾前來廣立微展臺交流探討，其中最近發(fā)布的新一代通用型晶圓級電性測試系統(tǒng)T4000獲得關注。

廣立微團隊細致地講解了T4000 “功能齊全、超高精度、高效穩(wěn)定、適配性強、強大的服務保障、豐富的算法庫”的優(yōu)勢。通過交流，很多化合物半導體企業(yè)都表示出了強烈的合作意向。

同時，廣立微基于電性測試的高效量產監(jiān)控解決方案（Advanced PCM Solution）也引得許多關注。Advanced PCM Solution在性價比和測試效率方面具有顯著優(yōu)勢，在量產環(huán)節(jié)中更精準地指向成品率失效的根本原因，并且結合廣立微的WAT測試機，可以為Fab客戶提供全方位的工藝監(jiān)控和新設備驗證。

此外，8月10日，廣立微董事長鄭勇軍博士應邀出席了“半導體制造技術與設備材料董事長論壇”，分享如何從設計、測試到分析全面提升電性監(jiān)控效率，實現高質量量產，與行業(yè)專家共探未來發(fā)展方向。

廣立微將積極響應市場的需求，持續(xù)創(chuàng)新，提升技術水平，為產業(yè)打造完整的成品率提升生態(tài)，為客戶帶來更高的價值，助力行業(yè)發(fā)展。