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產(chǎn)品與服務(wù)
軟件
測(cè)試設(shè)備
工程服務(wù)
測(cè)試芯片EDA&IP
SmtCell
功能強(qiáng)大的參數(shù)化單元?jiǎng)?chuàng)建工具
TCMagic
通用型的測(cè)試芯片版圖自動(dòng)化設(shè)計(jì)平臺(tái)
ATCompiler
可尋址測(cè)試芯片設(shè)計(jì)平臺(tái)
Addressable IP
可尋址測(cè)試芯片
ICSpider
產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷
Dense Array
超高密度測(cè)試芯片設(shè)計(jì)及快速測(cè)試技術(shù)
HDYS
高密度工藝監(jiān)測(cè)電路IP
DATAEXP大數(shù)據(jù)分析平臺(tái)
DE-G
通用半導(dǎo)體數(shù)據(jù)分析軟件
DE-YMS
半導(dǎo)體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
DE-DMS
缺陷管理分析系統(tǒng)
INF-AI
工業(yè)智能化集成平臺(tái)
INF-ADC
自動(dòng)缺陷分類(lèi)系統(tǒng)
INF-WPA
智能高效的晶圓缺陷圖案分析系統(tǒng)
DE-RF
RF數(shù)據(jù)分析軟件
DE-FDC
設(shè)備監(jiān)控系統(tǒng)
DE-SPC
統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制系統(tǒng)
DE-Alarm
智能良率、品質(zhì)異常檢測(cè)及報(bào)警系統(tǒng)
DE-iCASE
半導(dǎo)體缺陷異常智能化診斷系統(tǒng)
DFM軟件
CMPEXP
高效CMP建模與仿真工具
Virtual Yield
芯片良率建模工具
DFT軟件
QuanTest
可測(cè)性設(shè)計(jì)自動(dòng)化和成品率診斷解決方案
晶圓級(jí)電性參數(shù)測(cè)試設(shè)備
晶圓級(jí)WAT測(cè)試設(shè)備
晶圓級(jí)電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備,為客戶提供準(zhǔn)確且高度自動(dòng)化的測(cè)試解決方案,用于高效監(jiān)控工藝
晶圓級(jí)WLR測(cè)試設(shè)備
晶圓級(jí)可靠性(WLR)測(cè)試設(shè)備,快速準(zhǔn)確評(píng)估元器件是否能保持其電性規(guī)格高一致性的能力
工藝開(kāi)發(fā)測(cè)試設(shè)備
應(yīng)用于技術(shù)研發(fā)階段,大幅提升測(cè)試效率和精度
成品率提升服務(wù)(Yield Ramp Service)
為新工藝節(jié)點(diǎn)開(kāi)發(fā)提供定制化服務(wù),實(shí)現(xiàn)工藝開(kāi)發(fā)周期的縮短和成品率的提升
DFT 設(shè)計(jì)服務(wù) (DFT Design Service)
DFT(Design for Test)技術(shù)作為業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)手段,通過(guò)在芯片設(shè)計(jì)時(shí)加入測(cè)試專(zhuān)用電路,增加芯片的可測(cè)試性
解決方案
成品率提升
量產(chǎn)監(jiān)控解決方案
半導(dǎo)體大數(shù)據(jù)分析平臺(tái)
YMS Lite一體機(jī)
汽車(chē)電子
新聞動(dòng)態(tài)
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TCMagic
通用型的測(cè)試芯片版圖自動(dòng)化設(shè)計(jì)平臺(tái)
TCMagic簡(jiǎn)介
TCMagic是一款通用型的測(cè)試芯片版圖自動(dòng)化設(shè)計(jì)平臺(tái),基于其獨(dú)特的軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)和算法支持,在測(cè)試芯片設(shè)計(jì)過(guò)程中大幅提升設(shè)計(jì)效率。其主要功能包括基本單元版圖批量生成、模塊級(jí)版圖自動(dòng)布局布線、最終版圖布局整合,以及版圖相關(guān)設(shè)計(jì)文檔、測(cè)試相關(guān)文檔的自動(dòng)生成。
支持多工藝節(jié)點(diǎn)的測(cè)試芯片版圖設(shè)計(jì)
根據(jù)工藝設(shè)計(jì)特點(diǎn),依托軟件強(qiáng)大的算法,滿足工藝版圖設(shè)計(jì)中復(fù)雜的設(shè)計(jì)規(guī)則的要求,實(shí)現(xiàn)高效率、無(wú)差錯(cuò)的版圖設(shè)計(jì)
支持系統(tǒng)的文檔管理
打破傳統(tǒng)版圖設(shè)計(jì)工具的局限,支持基于基本單元版圖、擺放布線和布局整合信息,自動(dòng)生成版圖相關(guān)設(shè)計(jì)文檔和測(cè)試相關(guān)文檔,確保版圖與文檔信息的高度一致性,為測(cè)試芯片設(shè)計(jì)項(xiàng)目的維護(hù)以及后續(xù)流片、測(cè)試工作提供有力的文檔支撐
主要功能
基于參數(shù)化單元的批量單元版圖自動(dòng)化生成
支持第三方單元版圖導(dǎo)入
基于模板或表格的模塊級(jí)版圖自動(dòng)布局布線
支持頂層版圖布局整合
支持多層次的連線檢查
內(nèi)置DRC的無(wú)差錯(cuò)設(shè)計(jì)
支持LVS自動(dòng)驗(yàn)證
自動(dòng)生成版圖相關(guān)設(shè)計(jì)文檔
自動(dòng)生成測(cè)試相關(guān)文檔
設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)
友好的圖形用戶界面,清晰的功能模塊分區(qū)
簡(jiǎn)潔流暢的測(cè)試芯片版圖自動(dòng)化設(shè)計(jì)流程
提升版圖設(shè)計(jì)效率10倍以上
輕松實(shí)現(xiàn)無(wú)誤差設(shè)計(jì)
自動(dòng)化設(shè)計(jì)文檔利于項(xiàng)目可持續(xù)性維護(hù)
自動(dòng)化設(shè)計(jì)文檔有效縮短測(cè)試程序創(chuàng)建時(shí)間
方便快捷從一個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn)移植到另一個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn)
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