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產(chǎn)品與服務(wù)
軟件
測試設(shè)備
工程服務(wù)
測試芯片EDA&IP
SmtCell
功能強大的參數(shù)化單元創(chuàng)建工具
TCMagic
通用型的測試芯片版圖自動化設(shè)計平臺
ATCompiler
可尋址測試芯片設(shè)計平臺
Addressable IP
可尋址測試芯片
ICSpider
產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷
Dense Array
超高密度測試芯片設(shè)計及快速測試技術(shù)
HDYS
高密度工藝監(jiān)測電路IP
DATAEXP大數(shù)據(jù)分析平臺
DE-G
通用半導(dǎo)體數(shù)據(jù)分析軟件
DE-YMS
半導(dǎo)體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
DE-DMS
缺陷管理分析系統(tǒng)
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工業(yè)智能化集成平臺
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智能高效的晶圓缺陷圖案分析系統(tǒng)
DE-RF
RF數(shù)據(jù)分析軟件
DE-FDC
設(shè)備監(jiān)控系統(tǒng)
DE-SPC
統(tǒng)計過程控制系統(tǒng)
DE-Alarm
智能良率、品質(zhì)異常檢測及報警系統(tǒng)
DE-iCASE
半導(dǎo)體缺陷異常智能化診斷系統(tǒng)
DFM軟件
CMPEXP
高效CMP建模與仿真工具
Virtual Yield
芯片良率建模工具
DFT軟件
QuanTest
可測性設(shè)計自動化和成品率診斷解決方案
晶圓級電性參數(shù)測試設(shè)備
晶圓級WAT測試設(shè)備
晶圓級電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備,為客戶提供準確且高度自動化的測試解決方案,用于高效監(jiān)控工藝
晶圓級WLR測試設(shè)備
晶圓級可靠性(WLR)測試設(shè)備,快速準確評估元器件是否能保持其電性規(guī)格高一致性的能力
工藝開發(fā)測試設(shè)備
應(yīng)用于技術(shù)研發(fā)階段,大幅提升測試效率和精度
成品率提升服務(wù)(Yield Ramp Service)
為新工藝節(jié)點開發(fā)提供定制化服務(wù),實現(xiàn)工藝開發(fā)周期的縮短和成品率的提升
DFT 設(shè)計服務(wù) (DFT Design Service)
DFT(Design for Test)技術(shù)作為業(yè)界的標準手段,通過在芯片設(shè)計時加入測試專用電路,增加芯片的可測試性
解決方案
成品率提升
量產(chǎn)監(jiān)控解決方案
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SmtCell
功能強大的參數(shù)化單元創(chuàng)建工具
SmtCell簡介
SmtCell是一款參數(shù)化單元(Parameterized Cell)版圖設(shè)計工具。參數(shù)化單元的優(yōu)勢在于:相同結(jié)構(gòu)的單元版圖只需創(chuàng)建一次;版圖中幾何圖形的相關(guān)屬性可用參數(shù)來表征;單元版圖重復(fù)、費時的物理設(shè)計過程用參數(shù)賦值來代替。跟傳統(tǒng)的版圖設(shè)計工具相比,SmtCell可以帶來設(shè)計效率的大幅提升。
提高版圖設(shè)計效率
GUI可視化的版圖設(shè)計方式替代業(yè)內(nèi)原始的純腳本編寫的參數(shù)化單元設(shè)計方式,并在強大的版圖設(shè)計功能的加持下,實現(xiàn)設(shè)計效率大幅提升
豐富的參數(shù)化版圖單元庫
軟件內(nèi)置常見的參數(shù)化版圖單元庫,無需創(chuàng)建,可直接調(diào)用,適用常見的工藝節(jié)點工藝開發(fā)和良率提升的需求
主要功能
與主流版圖設(shè)計軟件匹配的版圖創(chuàng)建和編輯功能
靈活的版圖創(chuàng)建功能,如約束(Constraints)、條件(Condition)等
復(fù)雜的功能運算,如運算(Operation)的填充(fill)、布爾(boolean)等
支持TCL在線編程
多層次參數(shù)定義與參數(shù)化功能
內(nèi)嵌錯誤檢查功能
支持多種格式參數(shù)化單元輸出,如.lib,SKILL語言等
設(shè)計優(yōu)勢
友好的圖形用戶界面,清晰的功能模塊分區(qū)
相同結(jié)構(gòu)的單元版圖只需創(chuàng)建一次
版圖中幾何圖形的相關(guān)屬性用參數(shù)來表征
單元版圖中物理設(shè)計過程用參數(shù)賦值來代替
提升版圖設(shè)計效率10倍以上
輕松實現(xiàn)設(shè)計規(guī)則無誤差設(shè)計
方便快捷地從一個技術(shù)節(jié)點移植到另一個節(jié)點
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