平臺(tái)優(yōu)勢(shì)
- 涵蓋DFT全流程工具，支持MCU、AI、GPU、Network、5G基帶、AP等不同應(yīng)用領(lǐng)域芯片和規(guī)模的DFT設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)需求，并且支持系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的In-System-Test，以支持汽車電子的功能安全測(cè)試方案。
- 全方位的良率提升方案，可以適應(yīng)不同工藝、不同F(xiàn)ab的要求。通過DFT Diagnosis和Fab 大數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，可快速發(fā)現(xiàn)影響良率的根因，建立提升方案。
- 從DFT的測(cè)試診斷結(jié)果，可結(jié)合DATAEXP-YMS中多維度的芯片相關(guān)數(shù)據(jù)，如產(chǎn)品版圖、WAT/CP/FT測(cè)試數(shù)據(jù)、產(chǎn)線上的工藝步驟、設(shè)備、和缺陷等監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，從而更精準(zhǔn)地識(shí)別故障行為和分析故障根因，加速芯片產(chǎn)品上市場(chǎng)的周期。
- DFT自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)流程，以及完備的版本驗(yàn)收流程。同時(shí)支持RTL和Netlist Flow，并且通過Hierarchical DFT 和Hierarchical ATPG流程，加速產(chǎn)品Time-To-Market；建立完備的版本驗(yàn)收流程，滿足各種工藝設(shè)計(jì)的DPPM要求。
