產(chǎn)品優(yōu)勢及主要功能
產(chǎn)品優(yōu)勢
- 強大的版圖引擎，支持產(chǎn)品芯片大版圖的關(guān)鍵特征信息提取
- 強大的運算引擎，實現(xiàn)產(chǎn)品芯片成品率的高效預(yù)測和分析
主要功能
- 芯片成品率建模與校準
- 版圖關(guān)鍵特征信息提取
- 產(chǎn)品芯片成品率預(yù)測
- 成品率影響因素分析
- 結(jié)果可視化圖表生成
Virtual Yield
芯片良率建模工具
Virtual Yield簡介
盡管集成電路制造工藝技術(shù)已經(jīng)日臻成熟，但隨機缺陷仍然是導(dǎo)致良率損失的主要因素。特定尺寸缺陷的中心落入導(dǎo)致 IC 功能故障的區(qū)域被稱為關(guān)鍵區(qū)域，準確的關(guān)鍵區(qū)域分析結(jié)果可以幫助設(shè)計者深入分析和理解設(shè)計中的潛在問題。
Virtual Yield是一款基于成品率模型和產(chǎn)品芯片版圖對產(chǎn)品芯片的成品率進行預(yù)測和分析的自動化軟件。通過精確的產(chǎn)品芯片成品率預(yù)測數(shù)據(jù)和全面的影響因素比對分析報告，幫助設(shè)計者洞悉優(yōu)先級排序的良率影響，從而最大限度地提高設(shè)計的可制造性。
Virtual Yield是一款基于成品率模型和產(chǎn)品芯片版圖對產(chǎn)品芯片的成品率進行預(yù)測和分析的自動化軟件。通過精確的產(chǎn)品芯片成品率預(yù)測數(shù)據(jù)和全面的影響因素比對分析報告，幫助設(shè)計者洞悉優(yōu)先級排序的良率影響，從而最大限度地提高設(shè)計的可制造性。
設(shè)計優(yōu)勢
- 友好的圖形用戶界面，直觀的可視化圖表繪制
- 支持多種業(yè)界主流成品率模型，并允許使用測試芯片數(shù)據(jù)進行模型校準
- 針對不同成品率失效模式，對產(chǎn)品芯片的版圖進行關(guān)鍵特征信息的提取
模型分類
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