主要功能
INF-ADC
自動(dòng)缺陷分類系統(tǒng)
INF-ADC簡介
自動(dòng)缺陷分類系統(tǒng)
隨著半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)制造的技術(shù)復(fù)雜性增加，傳統(tǒng)的人工缺陷檢測無法滿足需求。運(yùn)用人工智能技術(shù)，搭配高效能的GPU計(jì)算能力，進(jìn)行產(chǎn)品瑕疵檢測和缺陷分類，可有效節(jié)約成本，提升良率。
廣立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于圖像識別和機(jī)器視覺等AI技術(shù)，支持對晶圓生產(chǎn)制造過程中不同工序、工藝、機(jī)臺的缺陷圖片進(jìn)行自動(dòng)分類的全套解決方案，界面友好，交互便捷，無需機(jī)器學(xué)習(xí)經(jīng)驗(yàn)，支持用戶零代碼進(jìn)行ADC模型的快速開發(fā)與應(yīng)用。
廣立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于圖像識別和機(jī)器視覺等AI技術(shù)，支持對晶圓生產(chǎn)制造過程中不同工序、工藝、機(jī)臺的缺陷圖片進(jìn)行自動(dòng)分類的全套解決方案，界面友好，交互便捷，無需機(jī)器學(xué)習(xí)經(jīng)驗(yàn)，支持用戶零代碼進(jìn)行ADC模型的快速開發(fā)與應(yīng)用。
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產(chǎn)品優(yōu)勢
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操作便捷性：
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適用范圍廣：
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分類精度高：
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系統(tǒng)性能高：
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